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高纯氮气水分仪FT605DP,氮气露点测试仪
型    号:FT605DP
所属分类:在线式露点仪
报    价:11
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高纯氮气水分仪FT605DP,氮气露点测试仪
芯片加热:所有水分测量探头,经过一段时间工作,由于工作环境的不良(如:油污、粉尘、腐蚀气、酸碱气体等),会对探头造成伤害,引起探头测量数据漂移产生偏差。***解决的办法就是对芯片进行高温加热。

高纯氮气水分仪FT605DP,氮气露点测试仪产品概述:


高纯氮气水分仪FT605DP,氮气露点测试仪

产品介绍:

    芯片加热:所有水分测量探头,经过一段时间工作,由于工作环境的不良(如:油污、粉尘、腐蚀气、酸碱气体等),会对探头造成伤害,引起探头测量数据漂移产生偏差。***解决的办法就是对芯片进行高温加热。一般加热在160℃以上,持续几分钟,用于蒸发芯片上的水分及油污,保证它的零位准确度。加热阶段,露点仪停止工作。经过几分钟冷却,又可进入循环测量。理论上讲温度变化与露点温度不存在关联。温度仅与相对湿度有关联,所以探头加热不影响露点温度测量。

 

   加热条件:我们的探头启动加热条件,当外部气体露点≤-40℃时,软件自动开启加热条件。加热温度为170 度,持续四分钟,然后进入冷却阶段约2 分钟。用于探头数据的平衡整理。为了保证探头在-40℃以上长期干燥,我们的探头温度始终恒定在30℃的环境工作(温度与露点无关),用于阻止细微的水汽与油污。所以我们有大加热170℃与小加热30℃。二者仅紧密结合,保证探头始终位于干燥环境。
高纯氮气水分仪FT80-1X,99.999氮气露点测试仪

 

 

技术参数:

测量特性

测量范围

露点:-80~20℃   温度:-40~85℃

准确度

±1℃: -10~+40℃

±2℃: -60~+20℃

±3℃: -80~+20℃

供电电压

交直流两用

锂电池持续供电24小时以上

工作环境

温度

-40..60

探头耐压

***大20bar

测量状态

当环境露点≤-40℃自启加热170  度

加热时间

启动后到加热结束约≤15 分钟

平时状态

探头自加热恒温30℃左右

 

 

 

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